专利名称：大数据采集分析专利类型：发明专利发明人：李涛,赵光光
申请号：CN201911254885.7申请日：20191209公开号：CN111427763A公开日：20200717
摘要：本发明涉及的是软件和大数据技术领域，具体涉及基于大数据预处理技术的测试大数据采集、分析的方法，包括：步骤1)测试需求库构建，将项目测试需求进行统一的入库管理；步骤2)测试用例库构建，将项目测试过程中设计、复用等各类测试用例进行统一的入库管理；步骤3)测试缺陷库构建，将项目测试过程中执行测试用例所发现的缺陷问题进行统一的入库管理，用于分析当前项目情况；步骤4)测试报告解析，将测试工具执行产生的测试报告统一入库管理，并进行解析获取测试发现的缺陷问题，将缺陷问题入库到测试缺陷库中；步骤5)外部结构化、非结构化数据入库。
申请人：北京关键科技股份有限公司
地址：102208 北京市昌平区回龙观二拨子博纳集团生产楼四楼关键科技
国籍：CN
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